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ATE（半导体测试分选机）
Memory Test Handler
ATE（半导体测试分选机） MAI LMT（直线电机）

ATE（半导体测试分选机）

Memory Test HandlerBurn-In SortersBurn-In Sorter OptionsApplication Test HandlerLogic Test HandlerModule Test HandlerAuto ScrapChiller

Memory Test Handler

  • M500HT
    M500HT
    · 512para的高生产性
    · 可通过±1.0℃的精密温度控制，进行准确的环境温度测试。
    · 对存储器测试工艺最优化的测试机
    Spec
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • MH7
    MH7
    · NAND FLASH 生产性提升所需的768para测试机
    · 利用P&P Head摄像机的自动修正位置
    · 缩短室内温度稳定化所需时间，提升开工率。
    Spec
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • MH5
    MH5
    • 工厂自动化准备（OHT）
    • Auto Teaching Vision
    • 卸载3D视图
    • Auto Contact Force
    • 自我诊断程序
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)